热射线屏蔽材料
2019-11-22

热射线屏蔽材料

本发明提供一种热射线屏蔽材料,所述热射线屏蔽材料包括:含金属粒子层,所述含金属粒子层包含至少一种金属粒子,其中,所述金属粒子包含按数量计60%以上的量的基本上六边形或基本上盘状的金属扁平粒子,并且所述金属扁平粒子的主平面相对于所述含金属粒子层的一个表面以在0°至±30°的范围内的角度取向。

除了在如表1-B所示合成Ag扁平粒子之后,在制备用于热射线反射材料的基板时,通过滴落将Ag扁平粒子分散液分布到基板的表面上,然后在烘箱中于100°C干燥30分钟,而不是将基板浸溃在Ag扁平粒子分散液中之外,以与实施例5相同的方式制备热射线屏蔽材料。

图2是示例根据本发明的热射线屏蔽材料中的扁平粒子的排列形貌的示意性平面图。

在金属粒子中使用的材料没有特别限制,并且可以适当地根据所需要的用途进行选择。例如,从具有高的对热射线(红外线)的反射率考虑,优选银、金、铝、铜、铑、镍、钼等。-金属扁平粒子-

此外,提出了使用Ag扁平形状离子的滤光器作为红外线屏蔽滤光器(参见日本专利申请公开(JP-A)N0.2007-108536、2007-178915、2007-138249、2007-138250和2007-154292)。然而,这些提议每一个都意欲用于等离子体显示器面板中,并且使用小体积的粒子,以改善在红外波长范围内的光的吸收率,并且没有采用Ag扁平形状粒子作为用于屏蔽热射线的材料(反射热射线的材料)。

(实施例 29)

(实施例 28)

将含有所得的金属扁平粒子的分散液通过滴落分布到玻璃基板上,并且通过原子力显微镜(AFM)(NAN0CUTEII,由SEIKOINSTRUMENTSINC.制造)测量一个金属扁平粒子的厚度。使用AFM在下列条件下进行测量:自检测型传感器,DFM模式;测量范围:5μπι;扫描速度:180秒/帧,数据点的数量:256X256。-径厚比-

-各种添加剂的添加-

-金属扁平粒子的合成-

从通过SEM观察获得的热射线屏蔽材料的垂直横截面样品的图像,计算含金属粒子层是否存在于在热射线屏蔽材料的深度方向距离其水平面(λ/η)/4的范围内。

-用于证实含金属粒子层是否存在于在热射线屏蔽材料的深度方向上距离水平面(λ/n)/4的范围内的方法_